RELMICROS HABERLERİ

 

ieee logo 241x300

2016, 18 Temmuz.
RelMicroS, Singapur'daki Entegre Devrelerin Fiziksel ve Hata Analizi Üzerine 23. Uluslararası Sempozyumda (IPFA 2016) “16 nm düğümler için FinFET ile Düzlemsel MOSFET'in BTI Ömür Boyu Güvenilirliği’nin Mukayesesi" posterini sundu.
 

Poster, cihaz seviyesindeki etkisini yeterli BTI Reaksiyon Difüzyon modeli kullanarak ve devre seviyesindeki etkisini 16nm düğümler için araştırarak, BTI yaşlanma bozulmasına karşı daha güçlü teknolojiyi tespit eden RelMicroS araştırmasının sonuçlarını sunmuştur. IPFA 2016, IEEE Güvenilirlik/CPMT/ED Singapur Bölümü tarafından organize edilmektedir.

 

  

images

2016, 27 Mayıs.
Entegre Devrelerin Fiziksel ve Hata Analizi Uluslararası Sempozyumu, (IPFA 2016), Singapur'da RelMicroS’un “Düzlemsel MOSFET'in BTI Ömür Boyu Güvenilirliği’nin 16 Nm Düğüm FinFET ile Mukayesesi” yayını kabul edilmiştir.

 

Makale, cihaz seviyesindeki etkisini yeterli BTI Reaksiyon Difüzyon modeli kullanarak ve devre seviyesindeki etkisini 16nm düğümler için araştırarak, BTI yaşlanma bozulmasına karşı daha güçlü teknolojiyi tespit eden RelMicroS araştırmasının sonuçlarını sunmuştur. IPFA 2016, IEEE Güvenilirlik/CPMT/ED Singapur Bölümü tarafından organize edilmektedir.

 

 

 

UM log04

2015, 10 Kasım.
RelMicroS, Malezya Üniversitesi (UM) Elektrik Mühendisliği Bölümü, VLSI Araştırma Laboratuvarı ile araştırma ortaklığına başladı.

 

RelMicroS, FinFET teknolojisine odaklanarak, VLSI güvenilirlik araştırması üzerine VLSI Araştırma Laboratuvarı ile işbirliği yapacaktır. VLSI Araştırma Laboratuvarı, yarıiletken cihazlara ve IC güvenilirliğine odaklanan UM'nin lider bir araştırma laboratuarıdır. UM, Malezya'nın önde gelen, lider araştırma üniversitesidir. QS 2016 sıralamasına göre, UM Mühendislik Fakültesi dünya çapında 54. sıradadır.